Fachartikel aus MECHATRONIK 12/2000, S. 32 bis 35

Leiterplatten-Teststrategie kombiniert Röntgeninspektion und In-Circuit-Test

Mit Röntgenaugen

Eine neue Teststrategie für komplexe Baugruppen kombiniert die automatische Röntgeninspektion mit dem In-Circuit-Test, unter anderem um Lötfehler frühzeitig zu erfassen. Ein Contract Manufacturer für Leiterplatten hat dieses Prüfverfahren einem umfangreichen Test unterzogen.