Fachartikel aus MECHATRONIK 9/2002, S. 20 bis 22

Testsysteme für SoC und Speicherchips

Design und Test im Kombipack

Neue Chiptester sollen Prüfkosten senken und die Markteinführung beschleunigen. So wird eine neue Anlage bald die EDA-Designdaten zum Prüfen von First Silicon verwenden und die Korrekturdaten an die Software übergeben. Ein anderes System kann Burn-in-Tests mit 254 Speicherbausteinen schon beim Wafer durchführen.