News - Veranstaltungen vom 01/07/2012

National Instruments

Praxisseminar „Vom Sensor zum Prüfbericht“

In dem kostenfreien Seminar zeigt National Instruments, wie Benutzer auf Basis der modularen und softwaredefinierten PXI-Plattform Prüfsysteme mit höherem Durchsatz und verbesserter Flexibilität zu geringen Gesamtkosten erstellen können.

Zu den Themenschwerpunkten des Praxisseminars, das ab Februar in Deutschland, Österreich und der Schweiz stattfinden wird, zählen die Gerätesteuerung und Datenerfassung mit beliebiger Hardware mittels lediglich einer Software, NI Compact RIO für anspruchsvolle Steuer- und Regelanwendungen sowie PXI-Plattform für automatisierte Testsysteme. Des Weiteren werden die Softwareprodukte NI Diadem und NI Teststand vorgestellt, die es ermöglichen, Messdaten strukturiert auszuwerten und zu verwalten sowie intuitive Testabläufe und Prüfberichte zu erstellen.Außerdem wird die grafische Entwicklungsumgebung Labview näher beleuchtet, mit der sich beliebige Messgeräte über unterschiedliche Schnittstellen an einen PC anbinden lassen.

Die Teilnehmer erfahren mehr über softwarebasierte computergestützte Messtechnik und die so genannten Virtuellen Instrumente. Durch sie lassen sich unter anderem flexible softwarebasierte Funktionalität, ein hoher Datendurchsatz und eine unkomplizierte Hardwareanbindung realisieren. Den Seminarteilnehmern wird zudem vermittelt, weshalb sich Labview optimal als Plattform für alle Anwendungen eignet – von der Gerätesteuerung, Datenerfassung und Digitalsignalverarbeitung über die Analyse und Benutzeroberflächenerstellung bis hin zur Implementierung von verteilten und echtzeitbasierten Mess- und Automatisierungssystemen. Alle Teilnehmer erhalten zusätzlich ein umfassendes Handbuch mit detaillierten Informationen.Anmeldemöglichkeiten, aktuelle Informationen, die ausführliche Agenda sowie alle Termine und Veranstaltungsorte finden Sie unter ni.com/german/seminartour.